Zwei Hände mit weißen Handschuhen, welche neben der Filtereinheit sind, halten abgeflachte Pinzette mit einem dünnen Filter und eine Ablage in der Hand.

Methoden der Partikelabscheidung

Vielfältige Anwendungsmöglichkeiten

Es stehen mehrere Methoden der Partikelabscheidung des Saugextraktionssystems C|PS für die Saugextraktion zur Verfügung. Dadurch kann das System vielfältige und unterschiedliche Anwendungsfälle abdecken.

 

Partikelabscheidung in die Laborflasche

Über die Zykloneinheit werden die abgesaugten Partikel in einer sauberen Laborflaschen gesammelt. Für die nachfolgende Analyse werden die in der Laborflasche gesammelten Partikel durch eine flüssige Analysefiltration auf Analysefilter umgelagert und anschließend lichtoptisch und gravimetrisch analysiert.

Diese Methode eignet sich insbesondere für große Bauteiloberflächen mit höherer Partikelfracht. Sie zeichnet sich durch die trockene, zerstörungsfreie Prüfung von grossen Bauteilen, auch mit abzugrenzenden Kontrollbereichen aus.

Partikelabscheidung auf die Partikelfalle

Die Partikel werden in der Zykloneinheit vom Saugstrom separiert und auf einer in der hierfür vorgesehenen Partikelfallen-Aufnahme angebrachte Partikelfalle abgeschieden. Die Partikelfalle kann dann ohne weitere Vorbehandlung lichtoptisch analysiert werden.

Diese Methode eignet sich für Bauteile mit kleineren Partikelfrachten, also tendenziell kleinere und „saubere“ Bauteile. Sie zeichnet sich durch die Möglichkeit der unmittelbaren lichtoptische Analyse und der schnellen Verfügbarkeit der Ergebnisse aus.

Direktfiltration

Die Partikel werden direkt über die Filtereinheit abgesaugt und auf dem speziellem Analysefilter (>5µm) aus dem Luftstrom abgeschieden. Der Analysefilter kann unmittelbar nach der Saugextraktion lichtoptisch ausgewertet werden. Zuvor kann - sofern erforderlich - die Filterbelegung mit der Aufschwemmeinheit für die lichtoptische Analyse präpariert werden. Darüber hinaus ermöglicht die Aufschwemmeinheit auch eine Filterkaskade im Falle höherer Partikelaufkommen.

Diese Methode eignet sich für die Prüfung kleiner Flächen mit geringerer Partikelfracht, z.B. im Prozessumfeld an Werkstückträgern oder für die Prüfung von Leiterplatten. Die Filterbelegung kann hierbei mit flüssigem Medium für die Analyse präpariert und anschliessend trocken gesaugt werden. Sie zeichnet sich durch die schnelle Verfügbarkeit der Analysefilter für die nachfolgende lichtoptische Analyse aus.